功能介紹

場發(fā)射掃描電子顯微鏡SEM，是一種用于高分辨形貌觀察的大型精密儀器。SEM具有景深大、分辨率高, 成像直觀、立體感強、放大倍數(shù)范圍寬以及待測樣品可在三維空間內進行旋轉和傾斜等特點。另外具有可測樣品種類豐富, 幾乎不損傷和污染原始樣品以及可同時獲得形貌、結構、成分和結晶學信息等優(yōu)點。目前, 掃描電子顯微鏡已被廣泛應用于生命科學、物理學、化學、司法、地球科學、材料學以及工業(yè)生產等領域的微觀研究, 

制樣要求

1.如提供TEM的形貌圖片，無參考意義;

2.塊體、片狀、薄膜尺寸小于1*1*0.5cm；粉末樣品大于10mg；

3.塊體、片狀、薄膜樣品請標注測試面；粉末不能測試線掃；

4.含水樣品測試時均需干燥后測試；

5.需備注照片倍數(shù)；每個樣多10張，需要張數(shù)請備注；

6.能譜備注理想?yún)^(qū)域，如有標尺要求請備注，如果沒有備注，常規(guī)測試；

7.1-4號元素不能測試能譜；BCNOF等超輕元素能譜測試不準，望知曉；

8.圖片不再區(qū)分小標尺，高倍數(shù)20萬倍，取消500nm和100nm的區(qū)別；

9.送樣請先檢測磁性并如實告知，因為磁性未說明損傷儀器，需要承擔維修費用；

東莞場發(fā)射掃描電鏡檢測

10.關于冷場熱場，下單請注明，無說明，隨機安排；

11.能譜圖上會有文字，不要文字的需要自己處理；

12.若有預期的形貌和標尺、放大倍數(shù)，在訂單中以文字說明;

13.一些儀器由于軟件限制，一些標尺無法輸出;

14.能譜說明：點掃、線掃、面掃分別按照一個點、一條線、一個面計費，僅提供一張形貌圖，并只用于展示測試位置。多個能譜按照個數(shù)計費。