透射電子顯微鏡（TEM）是研究材料微結構zui直接的表征技術之一，能夠在納米到原子尺度對材料微結構進行成像與分析，目前，應用于材料的電學參數表征方法可以分為兩大類：一類為宏觀尺度技術，比如四點探針法或范德堡法，光學測量等，允許快速檢測，但只能提供直流電導率等單一參數信息，另一類為納米尺度的技術，如拉曼光譜、原子力顯微鏡、掃描電鏡、透射電鏡等，能夠得到分辨率很高的圖像，然而通常需要復雜的樣品制備步驟，并且測量速度十分緩慢，無法實現高速測量。

沿管壁緩慢加入戊二醛預固定液，不要沖擊細胞團，靜置30min后可送樣，請在4~10℃保存或運輸，嚴禁結冰（太靠近冰箱后壁或冰袋運輸都可能使樣品結冰，冬季寧可常溫送樣），細胞高速離心收集方法，本方法過去被大多數單位采用，沒有“GT2”時的應急取材也可使用，各儀器公司的拍攝控制軟件是比較專業化的處理工具，能夠在處理基本粒徑分析、晶面間距等測量外，還能夠進行傅里葉變換、降噪處理等，得到更加深入的數據結果。

染色方法有單染，包括鉛鹽單染和鈾鹽單染；雙染色，醋酸鈾染色和檸檬酸鉛染色，雙染色呈現結果更全面，我們一般采用的雙染法進行染色，常用染色劑：醋酸鈾，有微弱的放射性，主要染核酸、核蛋白、細胞核、結締組織，檸檬酸鉛，主要染膜結構、脂類、糖原等，易與CO2反應成沉淀，染色中應采取措施避免，電鏡照片主要解析粒徑分布、單晶/多晶、晶面結構、元素和原子分散，其本質是信號的空間分布，基本機理與比例尺地圖是一致的。